説明
調整不要・光学系自動認識を搭載した
真の多機能・高機能X線回折装置 New D8 DISCOVERは薄膜試料、粉末試料のあらゆる測定に対応した多機能X線回折装置です。 4結晶モノクロメーターを使用した高分解能測定、大口径の2次元検出器を使用した高速の配向評価やインプレーン測定、1次元検出器を使用した高速逆格子マッピング、反射率による膜厚測定等あらゆる測定ニーズに対応します。 それらの光学系等のハードウエアは調整なしで簡単・迅速に交換ができ、それらは自動認識機能により最適な状態で測定することができます
真の多機能・高機能X線回折装置 New D8 DISCOVERは薄膜試料、粉末試料のあらゆる測定に対応した多機能X線回折装置です。 4結晶モノクロメーターを使用した高分解能測定、大口径の2次元検出器を使用した高速の配向評価やインプレーン測定、1次元検出器を使用した高速逆格子マッピング、反射率による膜厚測定等あらゆる測定ニーズに対応します。 それらの光学系等のハードウエアは調整なしで簡単・迅速に交換ができ、それらは自動認識機能により最適な状態で測定することができます
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New D8 DISCOVER
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